Silicon interface passivation studied by modulated surface photovoltage spectroscopy

J. Dulanto, M. A. Sevillano-Bendezu, R. Grieseler, J. A. Guerra, L. Korte, T. Dittrich, J. A. Tofflinger

Producción científica: Contribución a una revistaArtículo de la conferenciarevisión exhaustiva

1 Cita (Scopus)

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Silicon interface passivation studied by modulated surface photovoltage spectroscopy'. En conjunto forman una huella única.

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