Morphologic evaluation of thin films by algorithms of optical phase stepping applied to images obtained by interferential microscopy
- Valentin Sarmiento
- , Miguel Asmad
- , J. Ivan Choque
- , Guillermo Baldwin
- Pontifical Catholic Univ. of Peru
Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congreso › Contribución a la conferencia › revisión exhaustiva