Mechanical properties of cubic SiC, GaN and AlN thin films

Jörg Pezoldt, Rolf Grieseler, Thorsten Schupp, Donat J. As, Peter Schaaf

Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congresoContribución a la conferenciarevisión exhaustiva

9 Citas (Scopus)

Resumen

Cubic polytypes of SiC, GaN and AlN were grown on silicon by molecular beam epitaxy. The mechanical properties of the epitaxial layers were investigated by nanoindentation. For 3C-SiC grown on Si(111) and Si(100) an extremal behaviour of the indentation modulus in dependence on the surface preparation with germanium prior to the carbonization was obtained. The maximum values of the indentation modulus for both Si orientations were achieved at 1 ML Ge.

Idioma originalInglés
Título de la publicación alojadaSilicon Carbide and Related Materials 2011, ICSCRM 2011
EditoresRobert P. Devaty, Michael Dudley, T. Paul Chow, Philip G. Neudeck
EditorialTrans Tech Publications Ltd
Páginas513-516
Número de páginas4
ISBN (versión impresa)9783037854198
DOI
EstadoPublicada - 2012
Publicado de forma externa
Evento14th International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2011, ICSCRM 2011 - Cleveland, OH, Estados Unidos
Duración: 11 set. 201116 set. 2011

Serie de la publicación

NombreMaterials Science Forum
Volumen717-720
ISSN (versión impresa)0255-5476
ISSN (versión digital)1662-9752

Conferencia

Conferencia14th International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2011, ICSCRM 2011
País/TerritorioEstados Unidos
CiudadCleveland, OH
Período11/09/1116/09/11

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Mechanical properties of cubic SiC, GaN and AlN thin films'. En conjunto forman una huella única.

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