Interferograms analysis for measuring the thickness of aluminum thin films

Ivan Choque, Miguel Asmad, Josue Miranda, Alberto Quispe

Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congresoContribución a la conferenciarevisión exhaustiva

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Interferograms analysis for measuring the thickness of aluminum thin films'. En conjunto forman una huella única.

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