Determination of the optical bandgap and disorder energies of thin amorphous SiC and AlN films produced by radio frequency magnetron sputtering

J. A. Guerra, L. Montañez, O. Erlenbach, G. Galvez, F. De Zela, A. Winnacker, R. Weingärtner

Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva

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Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Determination of the optical bandgap and disorder energies of thin amorphous SiC and AlN films produced by radio frequency magnetron sputtering'. En conjunto forman una huella única.

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