Control of a piezoelectric device and image system acquisition for introducing phase steps in interferential microscope

J. Choque A.
, M. Asmad
, Valentin Sarmiento
, Guillermo E. Baldwin

Pontificia Universidad Católica del Perú

Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congreso › Contribución a la conferencia › revisión exhaustiva

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Terminado

Caracterización y medida morfológica de películas delgadas mediante microscopia inteferencial y técnicas de obtención Digital de la fase óptica.
Asmad Vergara, M. A. (Investigador principal), Baldwin Olguin, G. E. (Coinvestigador), Luis Manuel, L. M. (Coinvestigador), Choque Aquino, J. I. (Otro) & Sarmiento Pumarayme, V. J. (Otro)
1/01/12 → 1/11/12
Proyecto: Investigación