Huella
Profundice en los temas de investigación de 'Capacitance voltage curve simulations for different passivation parameters of dielectric layers on silicon'. En conjunto forman una huella única.- Clasificar por
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Capacitance voltage curve simulations for different passivation parameters of dielectric layers on silicon
M. A. Sevillano-Bendezú, J. A. Dulanto, L. A. Conde, R. Grieseler, J. A. Guerra, J. A. Töfflinger
Producción científica: Contribución a una revista › Artículo de la conferencia › revisión exhaustiva