Caracterización y medida morfológica de películas delgadas mediante microscopia inteferencial y técnicas de obtención Digital de la fase óptica.

Proyecto: Investigación

Estado	Finalizado
Fecha de inicio/Fecha fin	1/01/12 → 1/11/12

Control of a piezoelectric device and image system acquisition for introducing phase steps in interferential microscope
Choque A., J., Asmad, M., Sarmiento, V. & Baldwin, G. E., 1 dic. 2013, Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering. Vol. 8785.
Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congreso › Contribución a la conferencia › revisión exhaustiva
Morphologic evaluation of thin films by algorithms of optical phase stepping applied to images obtained by interferential microscopy
Sarmiento, V., Asmad, M., Choque, J. I. & Baldwin, G. E., 1 dic. 2013, Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering. Vol. 8785.
Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congreso › Contribución a la conferencia › revisión exhaustiva

Detalles del proyecto