Caracterización óptica y de emisión óptica de películas delgadas amorfas de materiales semiconductores con un amplio ancho de banda SiC:H, AlN, SiN dopadas con tierras raras para aplicaciones optoelectrónicas.

  • Weingärtner, Roland (Investigador principal)
  • Guerra Torres, Jorge Andres (Coinvestigador)
  • Flores Escalante, Loreleyn Flor (Otro)
  • Meyer Alberto Merino Azursa (Otro)
  • Montañez Huaman, Liz Margarita (Otro)

Proyecto: Investigación

Detalles del proyecto

Entidad Financiadora

VRI_PUCP
EstadoNo iniciado