Skip to main navigation Skip to search Skip to main content

Caracterización y medida morfológica de películas delgadas mediante microscopia inteferencial y técnicas de obtención Digital de la fase óptica.

  • Asmad Vergara, Miguel Augusto (PI)
  • Baldwin Olguin, Guillermo Edmundo (CoI)
  • Luis Manuel, Luis Manuel (CoI)
  • Choque Aquino, Jovanetty Ivan (Other)
  • Sarmiento Pumarayme, Valentin Jorge (Other)

Project: Research

Project Details

StatusFinished
Effective start/end date1/01/121/11/12